| चाचणी आणि तपासणी | किमान नमुना आकार | पातळी |
|
|
| बॅचची संख्या २०० तुकड्यांपेक्षा कमी नाही. | बॅच प्रमाण: १-१९९ तुकडे (टीप १ पहा) |
|
| आवश्यक चाचणी |
|
| एक पातळी |
| कराराचा मजकूर आणि एन्कॅप्सुलेशन |
|
| A1 |
| कराराचा मजकूर आणि पॅकेजिंग तपासणी (४.२.६.४.१) (विध्वंसक नसलेले) | सर्व | सर्व |
|
| देखाव्याची तपासणी |
|
| A2 |
| अ. एकूण (४.२.६.४.२.१) (विध्वंसक नसलेले) | सर्व | सर्व |
|
| b. तपशील (४.२.६.४.२.२) (विध्वंसक नसलेले) | १२२ तुकडे | १२२ तुकडे किंवा सर्व (बॅचची संख्या १२२ पेक्षा कमी) |
|
| पुन्हा टाइप करणे आणि नूतनीकरण करणे (नुकसानकारक) | टीप २ पहा | टीप २ पहा | A3 |
| टायपिंगसाठी सॉल्व्हेंट चाचणी (४.२.६.४.३अ) (हानीकारक) | ३ तुकडे | ३ तुकडे |
|
| नूतनीकरणासाठी सॉल्व्हेंट चाचणी (४.२.६.४.३B) (हानीकारक) | ३ तुकडे | ३ तुकडे |
|
| एक्स रे डिटेक्शन |
|
| A4 |
| एक्स-रे डिटेक्शन (४.२.६.४.४) (विध्वंसक नसलेले) | ४५ तुकडे | ४५ तुकडे किंवा सर्व (बॅचची संख्या ४५ तुकड्यांपेक्षा कमी) |
|
| शिसे शोधणे (XRF किंवा EDS/EDX) | टीप ३ पहा | टीप ३ पहा | A5 |
| XRF (लॉसलेस) किंवा EDS/EDX (लॉसी) (4.2.6.4.5) (अ‍ॅनेक्स C.1) | ३ तुकडे | ३ तुकडे |
|
| ओपन कव्हर अंतर्गत विश्लेषण (नुकसानकारक) | टीप ६ पहा | टीप ६ पहा | A6 |
| उघडे कव्हर (४.२.६.४.६) (नुकसानकारक) | ३ तुकडे | ३ तुकडे |
|
| अतिरिक्त चाचणी (कंपनी आणि ग्राहक दोघांनीही मान्य केली) |
|
|
|
| पुन्हा टाइप करणे आणि नूतनीकरण करणे (नुकसानकारक) | टीप २ पहा | टीप २ पहा | A3 पर्याय |
| स्कॅनिंग इलेक्ट्रॉन मायक्रोस्कोपी (४.२.६.४.३C) (हानीकारक) | ३ तुकडे | ३ तुकडे |
|
| पृष्ठभागाचे परिमाणात्मक विश्लेषण (४.२.६.४.३D) (विध्वंसक नसलेले) | ५ तुकडे | ५ तुकडे |
|
| उष्णतेची चाचणी |
|
| बी पातळी |
| थर्मल सायकल चाचणी (अ‍ॅनेक्स C.2) | सर्व | सर्व |
|
| विद्युत गुणधर्मांची चाचणी |
|
| सी पातळी |
| विद्युत चाचणी (परिशिष्ट C.3) | ११६ तुकडे | सर्व |
|
| वृद्धत्व चाचणी |
|
| डी पातळी |
| बर्न-इन चाचणी (चाचणीपूर्वी आणि नंतर) (परिशिष्ट C.4) | ४५ तुकडे | ४५ तुकडे किंवा सर्व (बॅचची संख्या ४५ तुकड्यांपेक्षा कमी) |
|
| घट्टपणाची पुष्टी (किमान गळती दर आणि कमाल गळती दर) |
|
| ई पातळी |
| घट्टपणाची पुष्टी (किमान आणि कमाल गळती दर) (परिशिष्ट C.5) | सर्व | सर्व |
|
| ध्वनिक स्कॅनिंग चाचणी |
|
| एफ पातळी |
| ध्वनिक स्कॅनिंग सूक्ष्मदर्शक (अ‍ॅनेक्स C.6) | नियमानुसार | नियमानुसार |
|
| इतर |
|
| जी पातळी |
| इतर चाचण्या आणि तपासणी | नियमानुसार | नियमानुसार |
टिपा:
१. १० पेक्षा कमी तुकड्यांच्या तुकड्यांसाठी, कॉग्निझंट इंजिनिअर्स त्यांच्या विवेकबुद्धीनुसार, "हानीकारक" चाचणीसाठी नमुना आकार १ तुकड्यापर्यंत कमी करू शकतात, जो चाचणीची गुणवत्ता आणि ग्राहकाच्या संमतीच्या अधीन असेल.
२. "स्वरूप चाचणी - तपशील चाचणी" साठी बॅचमधून रीटाइपिंग आणि रिफर्बिशिंग चाचणीसाठी नमुने निवडले जाऊ शकतात.
३. "स्वरूप चाचणी - तपशील चाचणी" साठी बॅचमधून शिशाच्या चाचणीचे नमुने निवडले जाऊ शकतात.
४. "रीटाइपिंग आणि रिफर्बिशिंग टेस्ट" अंतर्गत येणाऱ्या बॅचमधून ओपन कव्हर टेस्ट नमुने निवडता येतात.
